緊湊型原子力顯微鏡（AFM）是一種重要的納米尺度表征工具，用于研究物質表面的微觀結構、物理和化學性質。通過探針與樣品表面的相互作用力來成像。在AFM的操作過程中，探針的末端（通常是一個非常尖銳的針狀物）會與樣品表面發生相互作用，主要是通過范德華力、靜電力、化學鍵力等微弱力。探針的移動會引起其位置的微小變化，這些變化被精......

快速掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術，廣泛應用于材料科學、納米技術、生物學等多個領域。它可以用于表面形貌的測量和成像，具有高的空間分辨率，能夠揭示樣品表面在原子級別的細節。與傳統的掃描探針顯微鏡（SPM）相比，在掃描速度、分辨率以及數據處理方面具有明顯的優勢，使其在研究中具有廣泛的應用前景。快速掃描探針顯微鏡的......

多功能掃描探針顯微鏡是一種結合了掃描探針顯微鏡（SPM）技術和其他多種功能的高分辨率表面分析工具。它具有超高的空間分辨率，能夠探測到納米尺度的表面形貌和局部物理、化學性質，同時具備多種測量模式，適用于物理、化學、生物等多個領域的研究。優勢在于其不僅能提供傳統掃描探針顯微鏡的表面成像，還能進行原子力顯微鏡（AFM）、掃描......

原子力顯微鏡的調試與校準是實現高分辨率成像和精準測量的關鍵步驟，需系統性地結合設備特性、環境控制及操作規范。以下是詳細的調試校準流程及技術要點：一、環境準備與設備檢查1.環境要求-減震：AFM對振動極敏感，需放置于專用防震平臺，避免室內震動干擾。-溫濕度：實驗室溫度需控制在20-25℃，濕度保持在40%-60%，并配備......