低溫掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面成像技術(shù)，它通過在非常低的溫度下對樣品進(jìn)行掃描和檢測來獲得微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)信息。這種技術(shù)可以用于研究許多不同類型的材料，包括納米結(jié)構(gòu)、超導(dǎo)體、有機(jī)材料和金屬合金等。基于掃描隧道顯微鏡（STM）的原理，但它比STM多了一個(gè)重要的特點(diǎn)：在非常低的溫度范圍內(nèi)操作。低溫能夠減緩或消除許多熱噪......

針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現(xiàn)象的顯微鏡，可以進(jìn)行原子級的表面成像。核心部分是一個(gè)非常尖銳的針，一端與被測樣品表面相距約0.1納米。當(dāng)針尖靠近樣品表面時(shí)，電勢差將導(dǎo)致電流從針尖向樣品表面流動(dòng)。通過控制電流的大小，可以得出樣品表面的形狀信息。能夠?qū)崿F(xiàn)原子級別的成像，不僅可以觀察單個(gè)原子和分子的結(jié)構(gòu)，還可以研究它......

快速掃描探針顯微鏡是一種新型的探針顯微鏡，是從掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導(dǎo)顯微鏡，掃描電化學(xué)顯微鏡等）的統(tǒng)稱。基本工作原理是利用探針與樣品表面原子和分子之間的相互作用，即當(dāng)探針與樣品表面接近納米尺度時(shí)，形成各種相互作用的物理場，通過檢測相應(yīng)的物......

afm原子力顯微鏡探針是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanningtunnellingmicroscopy,掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zurich的BinnigandRohrer發(fā)明。1982年，Binnig觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年，Binnig,Ger......